意識調査

MEMS市場の期待アプリは?

Photograph

 -----------------------
PVJapan 2008
マイクロマシン/MEMS展
JPCA Show 2008
人とくるまのテクノロジー展
組込みシステム開発技術展
ファインテック・ジャパン
Display2008
PV EXPO 2008/FC EXPO 2008
nano tech 2008
インターネプコン
シャープと東芝が提携
日立,キヤノン,松下,提携
SEMICON Japan 2007

エクセレント

今月のニュース

過去のニュース一覧

CHINA

スペシャル企画

連載

特別調査レポート

セミナー報告

統計データ

イベント・展示会情報

新製品

レーザ超音波検査装置(日本レーザー)

▲レーザ超音波検査装置(日本レーザー)
 -----------------------
Solar-Cellユーティリティ
半導体検査装置
非接触表面・層断面形状計測システム
LED用エージングテスタ
クリーンバタフライバルブ
検査機能内蔵マウンタ
X線透視検査装置
薄型アライメントステージ
自動マクロ検査装置
小型モジュラーマウンタ

半導体用語集

CMOS
液浸リソグラフィ
カーボンナノチューブ
システムLSI
ナノテクノロジ
鉛フリーはんだ
半導体
マイクロマシン
有機EL

サイトマップ

SJNについて

メールマガジン登録

プレスジャーナルのHPへ

プライバシーポリシー

統計データ

Semiconductor International Capacity Statistics(世界半導体生産キャパシティ統計)(SICAS)のデータをもとにプレスジャーナルが作成

MOS0.08μm未満



  生産能力 実投入数 生産稼働率
ウェーハ投入数/週×1000(6インチ換算) 前期比伸長率(%) 前年同期比伸長率(%) ウェーハ投入数/週×1000(6インチ換算) 前期比伸長率(%) 前年同期比伸長率(%) 前年同期比伸長率(%)
07年1Q              
2Q              
3Q 616.9 n.a. n.a. 573.8 n.a. n.a. 93.0
4Q 633.4 2.7 n.a. 604.1 5.3 n.a. 95.4
08年1Q 725.5 14.5 n.a. 701.9 16.2 n.a. 96.7
2Q              
3Q              
4Q              

  • banner

  • banner

  • banner