今後，成長が期待される太陽電池は？
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JPCA Show 2008
人とくるまのテクノロジー展
組込みシステム開発技術展
ファインテック・ジャパン
Display2008
PV EXPO 2008/FC EXPO 2008
nano tech 2008
インターネプコン
シャープと東芝が提携
日立，キヤノン，松下，提携
SEMICON Japan 2007
▲LD励起コンパクトCW固体レーザ Excelsior505（スペクトラ・フィジックス）
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半導体検査装置
非接触表面・層断面形状計測システム
LED用エージングテスタ
クリーンバタフライバルブ
検査機能内蔵マウンタ
X線透視検査装置
薄型アライメントステージ
自動マクロ検査装置
小型モジュラーマウンタ
CMOS
液浸リソグラフィ
カーボンナノチューブ
システムLSI
ナノテクノロジ
鉛フリーはんだ
半導体
マイクロマシン
有機EL
Press Journal Inc.
2003-2008
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LD励起コンパクトCW固体レーザ Excelsior505
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特徴
- 設置スペースを選ばない小型ヘッドのため，多くの産業用途アプリケーションに適合
- 高信頼性・長寿命・低RMSノイズ・低消費電力
- アクティブパワーループで卓越した出力安定性＜±2％（8時間以上）
- 波長は505nm，出力は10mWまたは20mW
問い合わせ先
営業部
TEL03-3794-5511
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半導体検査装置 INSIGHT-300
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特徴
- ポストプロセシング→スキャニング中に超音波形を丸ごと収集し，あとでA，B，C，3Dイメージ画像の再描画・再評価が可能
- 高速，高解像度新型リニアスキャナーシステム
- ユーザーフレンドリーオペレーション
- スペースセービング
- オプション（内部カメラを利用した安全対策など多目的で便利な機能が追加/簡単便利なレポート作成機能/レーザークロスカーソル/フレキシブルガイドレール/耐久性に優れたステンレス水槽/高輝度LEDによる明るい水槽）
問い合わせ先
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非接触表面・層断面形状計測システム VertScan2.0
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特徴
- 光干渉方式を用いて非接触・非破壊で表面形状や層断面を計測
- 垂直分解能，精度，計測スピードに優れた非接触表面形状計測と透明な積層体を非破壊で計測できる層断面計測，1台で二つの計測が可能
- 低価格を実現
- 使いやすい自社開発ソフトで顧客のニーズに応えたカスタマイズが可能
問い合わせ先
- 科学技術システム事業部 画像システム開発部
- TEL03-3553-6041
- FAX03-3553-6046
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ヒートエクスチェンジャー
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特徴
- コンタミレスのクリーンな加熱
- 小型化・軽量化を実現しながらも高効率も達成
- 熱電対，サーモスタットを標準装備し省電力仕様
- IN/OUTの継手は変更可能
- 定格流量：10L/min，30L/min
- 最高使用温度：各200℃，300℃の4タイプ
問い合わせ先
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高出力LED用エージングテスタ「PTD-36A」
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特徴
- ペルチェ素子を搭載したテストボードにより，多数の被測定ハイパワーLEDを個別に温度制御が可能（25℃〜125℃/分解能±0.1℃）
- 高出力LEDドライバ搭載（電流レンジ：0〜2000mA，電圧レンジ：Max.30V対応）
- 測定項目：電気特性評価，光学特性評価（スペクトラムカラーシフト）
- チェンジキットにより多種多様のLEDパッケージ品に対応
- LEDオープン/ショートテスト機能搭載
- リモートモニタリング機能により，インターネット経由にていかなる場所でも信頼性評価。データをリアルタイムモニタリングすることが可能
問い合わせ先
- TEL03-5715-3501
- FAX03-5715-3502
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BZシリーズ クリーンバタフライバルブ
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特徴
- 二重偏芯構造クリーンバタフライバルブ
- パーティクルの滞留・付着を極小にするため研磨仕上を施した
- 接ガス部は脱脂・精密洗浄を施した完全禁油品
- 二重偏芯構造によりシートに無理な圧着力を必要としない
- ウォーム式ギア操作を標準とし，小さな開閉トルクで操作が可能
- バルクガスライン（窒素，酸素など）に最適
- ベローズバルブに比べて小型化，コストメリットを実現
問い合わせ先
- 営業企画部
- TEL03-6404-2171
- FAX03-6404-2172
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多層膜厚測定器 OPTIGAUGE
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特徴
- 精度±0.1μm，繰り返し性0.1μm1σ
- 1秒間に最大200測定（標準50測定/秒）
- 拡張性にすぐれ1台で最大8個までプローブ増設可能
- 設置の自由度が高く，オプティカルファイバケーブルは1000mまで延長可能
- 操作が簡単で，プラグ＆プレイでほとんどのアプリケーションに対応
- イーストマンコダックにより開発された技術
- 1台で12μm〜8mm厚みまで測定可能
- 各層の膜厚を順番通りにグラフィカルに表示
- 1310μmの近赤外線を使用しているので目に安全
問い合わせ先
- TEL03-5812-3751
- FAX03-5812-3752
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検査機能内蔵マウンタ M7-3i
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特徴
- カメラを移動ビーム上に取り付けることで，無駄な動きのない連続スキャンが可能
- 4本同時吸着，連続スキャンにより，搭載工程までの時間を短縮
- 検査部は，人工部品モデルをマスターデータとして使用しており，絶対で正確な検査が可能
問い合わせ先
- TEL053-484-1871
- FAX053-484-1870
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X線透視検査装置 SMX-2000
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特徴
- 新開発の画像処理・装置制御ソフトウェアの搭載により，外観カメラで撮影した画像をマウスでクリックするだけで，検査を開始可能
- サンプルの観察角度が変わっても，観察ポイントを自動的に追尾できる「トラッキング機能」を搭載
- 必要な検査手順をデザイン可能
問い合わせ先
- 分析計測事業部営業部セールスプロモーション課
- TEL075-823-1352
- FAX075-823-1380
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薄型アライメントステージ CHX形
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特徴
- テーブルサイズ□100mm（高さ35mm）〜□200mm（高さ60mm）と小型
- 予圧型フレキシブル平面軸受（PFB）を採用。同一平面上3か所に駆動モジュールを配置することにより，薄型構造を実現
- 高精度，高剛性を実現
問い合わせ先
- WEBプロジェクトSP課
- TEL03-5434-0342
- FAX03-5434-0325
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自動マクロ検査装置 AMI-3400
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特徴
- PER検出光学系の大幅な改良により，ハーフピッチ40nm世代量産プロセスでの使用可能
- TLEX光学系およびPER検出光学系により，下層からのノイズを減衰
- 300mmウェーハ全数・全面一括検査において，1時間当たり160枚以上の高スループットを実現
問い合わせ先
- ニコン インストルメンツカンパニー
- 産業機器統括部営業部第3営業課
- TEL044-223-2170
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小型モジュラーマウンタ YS12
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特徴
- コンパクトでありながら新開発の10連マルチヘッドにより3万6000CPH（0.1秒/chip）のスループットを実現
- L510mm×W460mmの大型基板まで対応
- 電動式インテリジェントフィーダー「SSフィーダー」を専用部品供給装置とし，優れた段取り作業性を発揮
問い合わせ先
- TEL0538-32-1145
- FAX0538-37-4250
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