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日清紡績は,太陽電池セルに発生するクラック(ひび割れ)を可視化する「インライン(生産ライン組込み)型EL検査装置」を開発した。EL検査装置は,EL(エレクトロルミネッセンス)現象を利用しており,セルに電気を流すことでセル自体を発光させ,クラックが発生しているか所を画像として取り込み,これまで肉眼では確認できなかったセル内部のマイクロクラックまで表示することができる。同社は,すでにライン外での判定用EL検査装置を出荷しており,今回新たにインライン型EL検査装置を開発。同装置は,Si結晶系,Si薄膜系太陽電池(化合物系太陽電池)に応用可能で,既存のモジュール製造ラインにも後付可能となっている。なお,同装置は,08年2月27日から東京ビッグサイトで開催されるPV EXPO 2008 第1回国際太陽電池展に出展される。