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NEC，LSI消費電力を最大50％削減する温度分布技術を開発（08/6/30）
NECは，LSIの微細化に伴い深刻な問題となっている，LSIの消費電力を削減するための基本技術として，LSI温度分布の「見える化」技術を開発した。同技術は，同社のスーパーコンピュータ「SX-9」での動作実証に成功している。今回開発した技術は，従来比1/10サイズの小型温度センサを，LSI内に数十個と大量に配置し，LSI内の温度変化を各センサからデジタル信号で出力することで，温度分布をリアルタイムに観測する「見える化」を実現するもの。また，温度センサの小型化において顕著となる製造バラつきによる測定誤差も低減し，高精度な測定を可能とした。これらの温度分布の同技術により，LSI内温度分布を均一にするための制御が可能となり，LSI内温度の局所的な上昇による信頼性低下を防ぐ「ディペンダブル」と，LSIのトータルな消費電力を削減する「エコロジー」が実現できる。具体的には，同技術を活用すれば，今後ますます主流となる，先端LSI内に多くのコア（演算回路，メモリ回路，アナログ回路など）を搭載するメニコアにおいて，各コアの動作周波数，データ処理量，電源電圧などを適切に制御することにより，先端LSIの消費電力を20％から最大50％削減できるようになるという。