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KLA-Tencorは,ダブルパターニング・リソグラフィ(DPL)にも対応する数値計算リソグラフィ・ツールの最新版「PROLITH 11」を発表した。DPLは,パターンを二つの組み合わせに分割することによって,微細なパターンを形成する方法。DPLレイヤに関してはマスクが2枚組になるとともに,新しいフォトレジスト材料が必要になり,プロセスの複雑さとコストが増大する。ファブでは,2回露光,ダブル・マスクおよび2重レジスト方式を採用することによって,無理のない範囲のプロセス条件の基でウェーハへの転写がどのように行われるかを解析し,マスク設計,材料およびプロセスのパラメータを最初から適切に設定する必要がある。ユーザーはPROLITH 11を使用することで,この複雑なシステムを高い精度でモデリングできる。また,このモデルを使用して,転写されたパターンに対するマスク設計,フォトレジスト特性およびスキャナやプロセス・パラメータの変化の影響を検討することによって,システムを最適化することが可能となる。