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SamsungとSun,超高耐久性フラッシュメモリを開発(08/7/25)

Samsung ElectronicsとSun Microsystemsは,2値セル(SLC)方式のNAND型フラッシュメモリデバイスを開発したことを発表した。新たに開発されたメモリデバイスは,SSDサーバアプリケーション向けに開発されたもので,既存のフラッシュメモリと比べて高い耐久性を実現するもの。このサーバグレードSLC NAND型メモリでは,データの書き込み・消去サイクル寿命が一般的なSLCフラッシュメモリの5倍という高い耐久性を達成しており,この結果,膨大なデータを処理するあらゆるサーバのライフサイクルを大幅に改善する。特に,24時間稼働のミッションクリティカルなコンピューティング用途で,高い耐久性を発揮することが期待される。また,同メモリでの1W当たりのデータ転送量(I/OPS:1秒当たり入力/出力)は,従来のハードドライブの100倍に達するとしており,消費電力の大幅な削減効果も期待される。


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