Photograph

Photograph

今月のニュース

過去のニュース一覧

連載

特別調査レポート

イベント・展示会情報

新製品

new products

半導体用語集

CMOS
液浸リソグラフィ
カーボンナノチューブ
システムLSI
ナノテクノロジ
鉛フリーはんだ
半導体
マイクロマシン
有機EL

サイトマップ

SJNについて

メールマガジン登録

プレスジャーナルのHPへ

プライバシーポリシー

Photograph


2007分析展(8月29日〜31日)/
幕張メッセ(千葉)

日本分析機器工業会(JAIMA)の分析計測機器に関する展示会「2007分析展」が開催。

会場風景

会場風景

誘導結合プラズマ質量分析計(Agilent Technologies)

誘導結合プラズマ質量分析計(Agilent Technologies)

残留ガス分析計(アルバック)

残留ガス分析計(アルバック)

サーマルデソープションシステム(島津製作所)

サーマルデソープションシステム(島津製作所)

小型化に成功したファイバ光源(浜松ホトニクス)

小型化に成功したファイバ光源(浜松ホトニクス))

走査電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ)

走査電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ)


  • banner

  • banner

  • banner